Основная Информация.
Модель №.
BS-6024TRF
Количество цилиндров
≥Три
Мобильность
Настольная
Вид источника света
Обычный свет
Форма
Линза Цилиндрической Формы
Применение
Преподавание, Исследования
Принцип
Оптический
Принцип оптики
оптическая система с бесконечной цветокоррекцией nis45
окуляр
sw10x/ 25 мм
носовой наконечник
секстюпл
цели
5, 10, 20, 50, 100
конденсатор
n.a.r.l.l.l.l.l.l.l.l.
этап
двухслойная механическая ступень
функция eco
функция eco с кнопкой eco
Транспортная Упаковка
прочная картонная коробка с пенопластовой защитой
Характеристики
1 шт./коробка, 51 см*42 см*43 см, вес брутто 15 кг
Торговая Марка
дарить
Происхождение
Beijing
Код ТН ВЭД
9011800090
Производственная Мощность
50000 шт. в год
Описание Товара
Введение
Вертикальные металлургические микроскопы серии BS-6024 были разработаны для исследований с рядом передовых разработок в области внешнего вида и функций, с широким полем зрения, высокой четкостью и светлым/темным полем полуахроматических металлургических задач и эргономичной операционной системой, они предназначены для создания совершенного научно-исследовательского решения и разработки новой модели промышленного поля.Функции
1. Превосходная бесконечная оптическая система.
Благодаря превосходной бесконечной оптической системе вертикальный металлургический микроскоп серии BS-6024 обеспечивает изображения с высоким разрешением, высокой четкостью и хроматической аберрацией, которые могут отображать детали вашего образца очень хорошо.
2. Модульная конструкция.
Микроскопы серии BS-6024 были разработаны с модульностью, чтобы соответствовать различным промышленным и материальным наукам. Это дает пользователям гибкость при создании системы, отвечающую конкретным потребностям.
3. ФУНКЦИЯ ECO.
Свет микроскопа автоматически выключается через 15 минут после ухода операторов. Он не только экономит энергию, но и сокращает срок службы лампы.
4. Удобство и простота использования. 
(1) цели программы NIS45 Infinite Plan Semi-APO и APO.
Благодаря высокопрозрачному стеклу и усовершенствованной технологии покрытия объективный объектив NIS45 обеспечивает высокое разрешение изображений и точное воспроизведение естественного цвета образцов. Для специальных применений доступны различные цели, включая поляризацию и дальние рабочие расстояния.
Благодаря высокопрозрачному стеклу и усовершенствованной технологии покрытия объективный объектив NIS45 обеспечивает высокое разрешение изображений и точное воспроизведение естественного цвета образцов. Для специальных применений доступны различные цели, включая поляризацию и дальние рабочие расстояния.
(2) Nomarski DIC.
При использовании нового модуля DIC разница высот образца, которая не может быть обнаружена с помощью функции Brightfield, становится рельефным или трехмерным изображением. Он идеально подходит для наблюдения частиц, проводящих ЖК-дисплей, и царапин на поверхности жесткого диска и т.д.
При использовании нового модуля DIC разница высот образца, которая не может быть обнаружена с помощью функции Brightfield, становится рельефным или трехмерным изображением. Он идеально подходит для наблюдения частиц, проводящих ЖК-дисплей, и царапин на поверхности жесткого диска и т.д.
(3) Система фокусировки.
Для того чтобы система могла соответствовать рабочим привычкам операторов, ручка фокусировки и ступени может быть отрегулирована на левую или правую сторону. Такая конструкция делает работу более комфортной.
Для того чтобы система могла соответствовать рабочим привычкам операторов, ручка фокусировки и ступени может быть отрегулирована на левую или правую сторону. Такая конструкция делает работу более комфортной.
(4) Наклон транокулярной головки Ergo.
Трубку окуляра можно регулировать в диапазоне от 0° до 35°, тринокулярную трубку можно подключить к цифровой зеркальной камере и цифровой камере, имея 0-позиционный разветвитель луча (100:100, 0:80, 20:3), разделительную планку можно собрать с обеих сторон в соответствии с требованиями пользователя.
Трубку окуляра можно регулировать в диапазоне от 0° до 35°, тринокулярную трубку можно подключить к цифровой зеркальной камере и цифровой камере, имея 0-позиционный разветвитель луча (100:100, 0:80, 20:3), разделительную планку можно собрать с обеих сторон в соответствии с требованиями пользователя.
| Темное поле (Wafer) Затемнение позволяет наблюдать рассеянный или дифрагированный свет образца. Все, что не плоское, отражает этот свет, в то время как все, что плоское, выглядит темным, поэтому недостатки четко выделяются. Пользователь может определить наличие даже минутной царапины или дефекта на уровне 8 нм, что меньше предела разрешающей мощности оптического микроскопа. Темное поле идеально подходит для обнаружения мельчайших царапин или дефектов на образце и анализа образцов зеркальных поверхностей, включая пластины. | Дифференциальная интерференция Контрастность (проводящие частицы) DIC — это метод микроскопического наблюдения, при котором разница высот образца, не обнаруживаемого с помощью светлого поля, становится рельефным или трехмерным изображением с улучшенной контрастностью. Этот метод использует поляризованный свет и может быть настроен на выбор из трех специально разработанных призм. Он идеально подходит для исследования образцов с очень минутными перепады высоты, включая металлургические структуры, минералы, магнитные головки, жесткие диски и полированные поверхности пластин. |
| Наблюдение за передаваемым светом (ЖК-дисплей) Для прозрачных образцов, таких как ЖК-дисплеи, пластмассы и стеклянные материалы, можно использовать различные конденсаторы для наблюдения за передаваемым светом. Исследование образца в переданном светлее и поляризованном свете может быть выполнено в одной удобной системе. | Поляризованный свет (асбест) Этот метод микроскопического наблюдения использует поляризованный свет, генерируемый набором фильтров (анализатором и поляризатором). Характеристики образца непосредственно влияют на интенсивность света, отраженного в системе. Подходит для металлургических структур (т.е., роста графита на узловом чугуне), минералов, ЖК и полупроводниковых материалов. |
Приложение
Микроскопы серии BS-6024 широко используются в институтах и лабораториях для наблюдения и идентификации структуры различных металлов и сплавов, они также могут использоваться в электронике, химической и полупроводниковой промышленности, таких как полупроводниковые пластины, керамика, интегральные схемы, электронные чипы, Печатные платы, ЖК-панели, пленка, порошок, тонер, проволока, волокна, покрытия с покрытием, другие неметаллические материалы и т.д.Технические характеристики
| Пункт | Технические характеристики | BS-6024RF | BS-6024TRF | |
| Оптическая система | Оптическая система NIS45 с бесконечной цветокоррекцией (длина трубки: 200 мм) | * | * | |
| Смотровая головка | ERGO Наклонная тринокулярная головка, регулируемая, наклонная на 0–35°, межпистолное расстояние 47мм–78мм; коэффициент расщепления окуляр:тринокулярный=100:0 или 20:80 или 0:100 | * | * | |
| Транокулярная голова Seidentopf, наклонная под углом 30°, межпистолное расстояние: 47–78 мм; коэффициент расщепления окуляр:тринокулярный=100:0 или 20:80 или 0:100 | ○ | ○ | ||
| Бинокулярная голова Seidentopf, наклонная на 30°, межпистолное расстояние: 47—78 мм | ○ | ○ | ||
| Окуляр | Сверхширокий наглазник SW10X/25 мм, регулируемый диоптрий | * | * | |
| Сверхширокий наглазник SW10X/22mm, регулируемый диоптрий | ○ | ○ | ||
| Сверхширокая наглазник EW12.5X/16 мм, регулируемый диоптрий | ○ | ○ | ||
| Широкоугольный наглазник WF15X/16 мм, регулируемый диоптрий | ○ | ○ | ||
| Широкоугольный наглазник WF20X/12 мм, регулируемый диоптрий | ○ | ○ | ||
| Цели | NIS45 Infinite LWD Plan Semi-APO Objective (BF и DF) | 5X/NA=0.15, WD=20 ММ | * | * |
| 10X/NA=0.3, WD=11 ММ | * | * | ||
| 20X/NA=0.45, WD=3,0 ММ | * | * | ||
| NIS45 Infinite LWD Plan APO Objective (BF и DF) | 50X/NA=0.8, WD=1,0 ММ | * | * | |
| 100X/NA=0.9, WD=1,0 ММ | * | * | ||
| План бесконечной LWD NIS60 полуAPO Objective (BF) | 5X/NA=0.15, WD=20 ММ | ○ | ○ | |
| 10X/NA=0.3, WD=11 ММ | ○ | ○ | ||
| 20X/NA=0.45, WD=3,0 ММ | ○ | ○ | ||
| NIS60 Infinite LWD Plan APO Objective (BF) | 50X/NA=0.8, WD=1,0 ММ | ○ | ○ | |
| 100X/NA=0.9, WD=1,0 ММ | ○ | ○ | ||
| Носовая накладка | Задний сексуальный носовой окуляр (с слотом DIC) | * | * | |
| Конденсатор | КОНДЕНСАТОР LWD N.A.C.65 | ○ | * | |
| Передаваемая подсветка | Галогенная лампа 24 в/100 Вт, Kohler, с фильтром ND6/ND25 | ○ | * | |
| Лампа S-LED 3 Вт, предварительная установка по центру, регулировка интенсивности | ○ | ○ | ||
| Отраженная подсветка | Галогенная лампа с отраженным светом 24 в/100 Вт, Koehler, с 6-позиц. Револьвером | * | * | |
| Галогенная лампа мощностью 100 Вт. | * | * | ||
| Отраженный свет со светодиодной лампой 5 Вт, подсветка Koehler, с 6-позитной револьверной головкой | ○ | ○ | ||
| Модуль BF1 для работы в условиях яркого поля | ○ | ○ | ||
| Модуль BF2 для работы в условиях яркого поля | * | * | ||
| DF модуль темного поля | * | * | ||
| Встроенный фильтр ND6, ND25 и фильтр коррекции цвета | ○ | ○ | ||
| ФУНКЦИЯ ECO | ФУНКЦИЯ ECO с кнопкой ECO | * | * | |
| Фокусировка | Низкопрофильный коаксиальный, грубая и точная фокусировка, точное деление 1μm, диапазон перемещения 35 мм | * | * | |
| Макс. Высота образца | 76 мм | * | ||
| 56 мм | * | |||
| Этап | Двухслойная механическая ступень, размер 210 мм X170 мм; диапазон перемещения 105 мм X105 мм (правая или левая рукоятка); точность: 1 мм; с твердой окисленной поверхностью для предотвращения абразивного износа можно заблокировать направление Y | * | * | |
| Держатель пластин: Может использоваться для крепления пластин размером 2, 3, 4 дюйма | ○ | ○ | ||
| Комплект DIC | Комплект DIC для отраженного освещения (может использоваться для задач 10X, 20X, 50X, 100X) | ○ | ○ | |
| Поляризационный комплект | Поляризатор для отраженного освещения | ○ | ○ | |
| Анализатор отраженного освещения, поворот на 0-360° | ○ | ○ | ||
| Поляризатор для передаваемого освещения | ○ | |||
| Анализатор для передаваемого освещения | ○ | |||
| Другие аксессуары | Адаптер C-mount 0,5-X. | ○ | ○ | |
| 1 АДАПТЕР C-mount | ○ | ○ | ||
| Пылезащитная крышка | * | * | ||
| Кабель питания | * | * | ||
| Калибровочный слайд 0,01 мм | ○ | ○ | ||
| Анализатор образцов | ○ | ○ | ||
Схема системы
